15601689581
Product catalog
激光雷達領(lǐng)域的新秀利器—SPAD23激光雷達（LiDAR）技術(shù)以其精準(zhǔn)的距離測量和三維建模成像能力，在多個行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。這項技術(shù)主要通過發(fā)射激光脈沖并測量這些脈沖與物體碰撞后返回的時間來工作，從而獲得高精度的空間數(shù)據(jù)。不僅能夠進行測距還能進行復(fù)雜場景的計算成像等等。激光雷達技術(shù)已廣泛應(yīng)用于以下行業(yè)：地理空間測繪、考古學(xué)、自動駕駛車輛、農(nóng)業(yè)、林業(yè)管理、城市規(guī)劃、災(zāi)害管理、建筑和建筑管理、交互式媒體和藝術(shù)、太陽能和風(fēng)能項目、軍事和國防、礦業(yè)和地質(zhì)學(xué)、基礎(chǔ)設(shè)施和建設(shè)、大氣研...
查看全文熒光成像內(nèi)窺鏡—激光技術(shù)在醫(yī)療成像與治療中的創(chuàng)新應(yīng)用內(nèi)窺鏡檢查是腫瘤學(xué)中檢測和切除并且已經(jīng)逐漸成為腫瘤的腫瘤或癌前病變的特別重要的工具。內(nèi)窺鏡成像通常使用正常白光進行。然而某些腫瘤在白光下可能難以檢測到，因為所有結(jié)構(gòu)都被照亮，對惡性病變沒有特異性。因此，通過對患者使用特殊的熒光染料，使熒光染料優(yōu)先積聚到惡性病變中，這樣在特定波長的光被激發(fā)時，惡性組織和健康組織之間的對比度就會增加，此為熒光成像內(nèi)窺鏡。熒光成像內(nèi)窺鏡在醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用背景涉診斷與評估治療效果。在腫瘤檢測方面，研究顯...
查看全文成像式亮度色度計產(chǎn)品原理及應(yīng)用介紹成像式亮度色度計工作原理：成像式亮度色度計是一種基于成像原理來進行測光和測色的測量儀器，基本結(jié)構(gòu)是由視覺（或色覺）匹配的探測器（ccd或cmos）、光學(xué)系統(tǒng)以及與亮度（或三刺激值XYZ）成比例的信號輸出處理系統(tǒng)所組成。單點亮度計測試系統(tǒng)成像式亮度色度計測試系統(tǒng)亮度測試原理：根據(jù)圖利用光度學(xué)和幾何光學(xué)的原理可以推出:公式（1）式中：E-成像面上的照度;L-發(fā)光面上的亮度;τ-光學(xué)系統(tǒng)的透射比（透過率）;f-透鏡焦距;l-透鏡與發(fā)光面的距離（稱為...
查看全文解析ppln晶體在量子技術(shù)加速商業(yè)化的關(guān)鍵作用（二）：產(chǎn)品應(yīng)用非線性晶體，尤其是PPLN晶體，以其優(yōu)異的性能在量子技術(shù)領(lǐng)域扮演著重要角色?，F(xiàn)在，讓我們轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用，看看這些科研單位和公司是如何利用MgO:PPLN晶體的，并聽聽他們的評價。*本文來源于英國Covesion公司的案例研究。上海昊量光電是Covesion公司在中國地區(qū)的合作伙伴。太空認(rèn)證的非線性光學(xué)堅固型量子激光器(SNORQL)銣原子磁光阱（Rb-MOT）作為下一代量子技術(shù)，可以實現(xiàn)超靈敏的重力測量。衛(wèi)星重力遙感...
查看全文解析ppln晶體在量子技術(shù)快速商業(yè)化的關(guān)鍵作用（一）：應(yīng)用技術(shù)量子技術(shù)，曾經(jīng)似乎是僅存在于科幻小說中的天方夜譚，但如今逐漸深入到我們的日常中改善我們的生活。而在前端的科研領(lǐng)域，如量子通信和量子計算機，量子技術(shù)同樣令人興奮，影響也將越來越顯著，而非線性光學(xué)晶體（NLO）將在該技術(shù)的商業(yè)化過程中發(fā)揮關(guān)鍵作用。*本文來源于英國Covesion公司《Non-linearOpticalCrystalsUsedforQuantumTechnology》。量子技術(shù)主要這三個領(lǐng)域內(nèi)多種應(yīng)用中...
查看全文在這個納米級的世界里，每一層薄膜的厚度都可能決定著一個器件的性能，甚至影響整個系統(tǒng)的功能。因此，對膜厚進行精確測量成為了科研與生產(chǎn)中的核心環(huán)節(jié)。膜厚測量儀，作為微觀世界的“量尺”，正以其精準(zhǔn)度讓每一層薄膜的厚度都盡在掌握之中。膜厚測量儀其核心競爭力在于“”。不同于傳統(tǒng)的測量方法，它能夠以納米級的精度對薄膜的厚度進行測量，且誤差極小。這一技術(shù)的突破，源于對光學(xué)、電子學(xué)以及材料科學(xué)等多個領(lǐng)域的深入研究與交叉融合。通過采用先進的測量原理，如橢偏測量、X射線熒光分析或掃描電子顯微鏡技...
查看全文在材料科學(xué)的廣闊天地里，薄膜材料以其物理、化學(xué)性質(zhì)，在電子、光學(xué)、生物醫(yī)療、能源轉(zhuǎn)換與存儲等領(lǐng)域展現(xiàn)出了無限“膜”力。從半導(dǎo)體芯片上的精密涂層到太陽能電池板的高效光吸收層，薄膜的質(zhì)量和性能往往決定了整個系統(tǒng)的功能和效率。而在這其中，膜厚的精確測量是確保薄膜質(zhì)量、優(yōu)化材料性能的關(guān)鍵步驟。近年來，膜厚測量儀的問世，正為這一領(lǐng)域注入了一股新的活力。傳統(tǒng)膜厚測量方法，如機械式測厚儀、光學(xué)干涉儀等，雖然在一定程度上滿足了工業(yè)生產(chǎn)和科研的基本需求，但在面對復(fù)雜多變、尺度微小的薄膜材料時，...
查看全文膜厚測量儀這一準(zhǔn)確而高效的測量工具，正以其優(yōu)勢，解鎖了材料厚度測量的新境界，讓我們得以更深入地洞察微觀世界的奧秘。膜厚測量儀是一種用于測量材料表面薄膜厚度的儀器。它利用物理或化學(xué)原理，通過非接觸式或接觸式的方式，對材料表面的薄膜進行精確測量。相較于傳統(tǒng)的測量方法，膜厚儀具有更高的精度、更快的測量速度和更廣的應(yīng)用范圍。無論是金屬、塑料、陶瓷還是半導(dǎo)體材料，膜厚儀都能輕松應(yīng)對，提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果。在材料科學(xué)領(lǐng)域，膜厚測量儀的應(yīng)用尤為廣泛。在半導(dǎo)體行業(yè)中，芯片表面的薄膜厚度直接影響...
查看全文
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號6號樓3樓
info@auniontech.com
昊量微信在線客服
昊量微信在線客服
版權(quán)所有 © 2025上海昊量光電設(shè)備有限公司 備案號：滬ICP備08102787號-3 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 Sitemap.xml
