Product catalog
精密定位系統(tǒng)/平移臺
數(shù)據(jù)記錄
高精度壓電馬達夾爪
旋轉(zhuǎn)平臺
平移臺
載物臺
納米精度電動升降臺
位移臺
探測器/光子計數(shù)器
大角度閉環(huán)微型振鏡
線性功率放大器
液晶空間光調(diào)制器
多模石英光纖
定制光纖束
超導(dǎo)單光子探測器
4D位置敏感探測器
激光脈沖選擇器
光束勻化方案匯總
光束偏轉(zhuǎn)解決方案匯總
強激光自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)
液晶空間光調(diào)制器配套光學(xué)系統(tǒng)
超高速DMD數(shù)字微鏡陣列
高速閉環(huán)自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)
微通道板(MCP)
聲光可調(diào)諧濾波器
超快鐵電液晶偏振旋轉(zhuǎn)器
光彈調(diào)制器
光學(xué)可調(diào)諧濾波器
高精度MTF測量儀
雙折射顯微成像系統(tǒng)
在線色度檢測色度計
高功率光纖/光纜
快傾鏡/轉(zhuǎn)鏡/旋轉(zhuǎn)平臺
激光測量設(shè)備
電阻測試儀
隔震平臺
準(zhǔn)直儀
伺服控制器
脈沖測量儀
波長計
干涉儀
相位成像相機
功率計/能量計
飛秒激光器
自相關(guān)儀
激光器光束在線測量系統(tǒng)
磁疇觀察
光束分析儀
偏振態(tài)測量儀
波前分析儀
紅外觀察儀
激光光束質(zhì)量分析儀
超短激光脈沖測量系統(tǒng)
光譜儀
拉曼成像系統(tǒng)
光譜儀傳感器
光譜色度一體機
高光譜顯微鏡
近紅外光譜儀
傅里葉光譜儀
近紅外光譜分析和化學(xué)計量學(xué)軟件
光譜成像分析系統(tǒng)
MRI射頻信號處理器
光電流成像系統(tǒng)
中紅外光譜儀
偏振相機
高光譜成像儀
紅外二維光譜儀
拉曼光譜儀
色度計
專用實驗設(shè)備
熱導(dǎo)率測試儀
熒光壽命成像
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)
納米孔讀取器
3D超分辨率單分子定位顯微鏡模塊(無需掃描)
圓二色譜儀
核磁共振波譜儀
測試臺
波導(dǎo)
光電測試系統(tǒng)
斬波器
高分辨率光譜儀
高光譜成像系統(tǒng)
光泵磁力儀
波形發(fā)生器
光刻機
激光雷達
超聲源
輪廓儀
納米壓痕儀
陰極發(fā)光
異步光學(xué)采樣系統(tǒng)
脈沖選擇器
顯微鏡
檢漏儀
振蕩器
傳感器
水聽器
高速控制器
實驗系統(tǒng)
磁光阱
中空回射器
超穩(wěn)腔
輻射計
顯微成像系統(tǒng)
星模擬器
人工智能機器視覺識別軟件
光纖耦合二極管
普克爾盒
糾纏光子源
測振儀
振動分析儀
相位延遲器
電磁干擾測試儀
示波器
鈮酸鋰調(diào)制器
DLP光學(xué)投影模組
無序抓取解決方案
聲光移頻器
顯微鏡載物臺
光片掃描儀
單色儀
膨脹計
超短脈沖脈寬壓縮器
再生放大器專用調(diào)制及控制模塊
原子力顯微鏡
顯微鏡成像組件
磁力計
變形鏡
光頻梳
數(shù)字源表
分析儀
定位/掃描臺
濾波器
橢偏儀
射頻收發(fā)器
高頻激振器
電子多路復(fù)用器
頻率合成器
頻率計數(shù)器
位移測量儀
光電探測器
信號發(fā)生器
X射線產(chǎn)品
高精度時間間隔與頻率計數(shù)器
CVD制備設(shè)備
二硫化鉬CVD制備設(shè)備
太赫茲偏振片
平衡探測器
太赫茲波片
高萊盒
太赫茲反射鏡
太赫茲透鏡
探針臺
電池測試設(shè)備
多電極陣列
飛秒脈沖重復(fù)頻率鎖定-光鎖相環(huán)
平衡光學(xué)互相關(guān)器TCBOC
時間分配和同步系統(tǒng)TDS
太赫茲探測器
單板控制器
單模光纖
太赫茲時域光譜儀
太赫茲系統(tǒng)
全息光鑷系統(tǒng)
活細胞定量儀器
阻抗分析儀
多光譜固定翼無人機整體方案
無人機多光譜解決方案
農(nóng)業(yè)專業(yè)無人機解決方案
鈮酸鋰電光相位調(diào)制器
電光調(diào)制器
整形器
壓印機
空間光調(diào)制器
高頻振動測試儀
低溫制冷/恒溫設(shè)備
鑒相器
磁學(xué)測量
激光器/光源
載波包絡(luò)偏頻鎖定模塊
光源
光源開發(fā)套件
激光系統(tǒng)
半導(dǎo)體激光器
一體化ECDL控制器/頻率鎖定
激光器
Q開關(guān)Nd:YAG激光器
晶體制冷機
單頻激光器
被動毫米波探測器
X射線屏
光纖面板
X射線聚焦鏡
X射線探測器
飛秒頻率梳
多軸可調(diào)準(zhǔn)直光源
x射線源
光纖激光器
皮秒激光器
多波長激光器
糾纏光子源、單光子源
中紅外/量子級聯(lián)激光器
垂直腔面發(fā)射激光器 VCSEL
超連續(xù)譜激光器
納秒/亞納秒脈沖激光器
單縱模激光器(CW)
可調(diào)諧激光器
光學(xué)部件
云母
LEAsys非接觸式超聲波無損檢測系統(tǒng)
光纖麥克風(fēng)
反射板
非球面鏡
衰減器
濾光片
顯微鏡框架
光纖光柵
光學(xué)延遲線
光隔離器
渦旋波片
光緒可調(diào)濾波器
光纖
光柵
光纖探頭
光譜測量系統(tǒng)
OCT系統(tǒng)
雙折射測量系統(tǒng)
變焦透鏡
多驅(qū)動自適應(yīng)鏡頭
可變形反射鏡
光束整形器件
偏振器件
體布拉格光柵(VBG,VHG)
光學(xué)鏡頭
超高真空腔
微透鏡陣列/透鏡陣列
F-Theta透鏡與擴束鏡
晶體
LBO晶體
CLBO晶體
閃爍晶體
周期極化晶體
鈮酸鋰/摻鎂鈮酸鋰晶體
TGG,TSAG,YIG
KTN 晶體
激光非線性晶體
周期極化鈮酸鋰(PPLN)
精密定位系統(tǒng)/平移臺/掃描
電動平移臺
電動升降臺
微型振鏡
自動變焦模塊/物鏡掃描臺
壓電精密定位系統(tǒng)
光學(xué)/激光加工系統(tǒng)
應(yīng)力雙折射測量
飛秒激光器系統(tǒng)
光學(xué)平臺
無掩膜光刻系統(tǒng)
實驗室電子產(chǎn)品
微型多通道電流放大器
膜厚測量儀
強度調(diào)制器
單光子計數(shù)器
相位調(diào)制器
鎖相放大器
相機
太赫茲源
工業(yè)相機
PCI Express攝像頭
增強器
高光譜相機
雙攝相機
TOF相機
圖像采集卡
紫外相機
單光子相機
3D相機
大疆相機-高清相機/熱紅外相機/雙光相機
無人機
熱成像儀
科研相機
太赫茲相機
光場相機
CCD科研相機
紅外相機
高速熒光相機
CMOS相機
X射線相機
多光譜相機
空間光調(diào)制產(chǎn)品
飛秒脈沖壓縮器
純相位空間光調(diào)制器
DMD
激光雷達領(lǐng)域的新秀利器—SPAD23激光雷達(LiDAR)技術(shù)以其精準(zhǔn)的距離測量和三維建模成像能力,在多個行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。這項技術(shù)主要通過發(fā)射激光脈沖并測量這些脈沖與物體碰撞后返回的時間來工作,從而獲得高精度的空間數(shù)據(jù)。不僅能夠進行測距還能進行復(fù)雜場景的計算成像等等。激光雷達技術(shù)已廣泛應(yīng)用于以下行業(yè):地理空間測繪、考古學(xué)、自動駕駛車輛、農(nóng)業(yè)、林業(yè)管理、城市規(guī)劃、災(zāi)害管理、建筑和建筑管理、交互式媒體和藝術(shù)、太陽能和風(fēng)能項目、軍事和國防、礦業(yè)和地質(zhì)學(xué)、基礎(chǔ)設(shè)施和建設(shè)、大氣研...
熒光成像內(nèi)窺鏡—激光技術(shù)在醫(yī)療成像與治療中的創(chuàng)新應(yīng)用內(nèi)窺鏡檢查是腫瘤學(xué)中檢測和切除并且已經(jīng)逐漸成為腫瘤的腫瘤或癌前病變的特別重要的工具。內(nèi)窺鏡成像通常使用正常白光進行。然而某些腫瘤在白光下可能難以檢測到,因為所有結(jié)構(gòu)都被照亮,對惡性病變沒有特異性。因此,通過對患者使用特殊的熒光染料,使熒光染料優(yōu)先積聚到惡性病變中,這樣在特定波長的光被激發(fā)時,惡性組織和健康組織之間的對比度就會增加,此為熒光成像內(nèi)窺鏡。熒光成像內(nèi)窺鏡在醫(yī)學(xué)中的應(yīng)用背景涉診斷與評估治療效果。在腫瘤檢測方面,研究顯...
成像式亮度色度計產(chǎn)品原理及應(yīng)用介紹成像式亮度色度計工作原理:成像式亮度色度計是一種基于成像原理來進行測光和測色的測量儀器,基本結(jié)構(gòu)是由視覺(或色覺)匹配的探測器(ccd或cmos)、光學(xué)系統(tǒng)以及與亮度(或三刺激值XYZ)成比例的信號輸出處理系統(tǒng)所組成。單點亮度計測試系統(tǒng)成像式亮度色度計測試系統(tǒng)亮度測試原理:根據(jù)圖利用光度學(xué)和幾何光學(xué)的原理可以推出:公式(1)式中:E-成像面上的照度;L-發(fā)光面上的亮度;τ-光學(xué)系統(tǒng)的透射比(透過率);f-透鏡焦距;l-透鏡與發(fā)光面的距離(稱為...
解析ppln晶體在量子技術(shù)加速商業(yè)化的關(guān)鍵作用(二):產(chǎn)品應(yīng)用非線性晶體,尤其是PPLN晶體,以其優(yōu)異的性能在量子技術(shù)領(lǐng)域扮演著重要角色?,F(xiàn)在,讓我們轉(zhuǎn)向?qū)嶋H應(yīng)用,看看這些科研單位和公司是如何利用MgO:PPLN晶體的,并聽聽他們的評價。*本文來源于英國Covesion公司的案例研究。上海昊量光電是Covesion公司在中國地區(qū)的合作伙伴。太空認(rèn)證的非線性光學(xué)堅固型量子激光器(SNORQL)銣原子磁光阱(Rb-MOT)作為下一代量子技術(shù),可以實現(xiàn)超靈敏的重力測量。衛(wèi)星重力遙感...
解析ppln晶體在量子技術(shù)快速商業(yè)化的關(guān)鍵作用(一):應(yīng)用技術(shù)量子技術(shù),曾經(jīng)似乎是僅存在于科幻小說中的天方夜譚,但如今逐漸深入到我們的日常中改善我們的生活。而在前端的科研領(lǐng)域,如量子通信和量子計算機,量子技術(shù)同樣令人興奮,影響也將越來越顯著,而非線性光學(xué)晶體(NLO)將在該技術(shù)的商業(yè)化過程中發(fā)揮關(guān)鍵作用。*本文來源于英國Covesion公司《Non-linearOpticalCrystalsUsedforQuantumTechnology》。量子技術(shù)主要這三個領(lǐng)域內(nèi)多種應(yīng)用中...
在這個納米級的世界里,每一層薄膜的厚度都可能決定著一個器件的性能,甚至影響整個系統(tǒng)的功能。因此,對膜厚進行精確測量成為了科研與生產(chǎn)中的核心環(huán)節(jié)。膜厚測量儀,作為微觀世界的“量尺”,正以其精準(zhǔn)度讓每一層薄膜的厚度都盡在掌握之中。膜厚測量儀其核心競爭力在于“”。不同于傳統(tǒng)的測量方法,它能夠以納米級的精度對薄膜的厚度進行測量,且誤差極小。這一技術(shù)的突破,源于對光學(xué)、電子學(xué)以及材料科學(xué)等多個領(lǐng)域的深入研究與交叉融合。通過采用先進的測量原理,如橢偏測量、X射線熒光分析或掃描電子顯微鏡技...
在材料科學(xué)的廣闊天地里,薄膜材料以其物理、化學(xué)性質(zhì),在電子、光學(xué)、生物醫(yī)療、能源轉(zhuǎn)換與存儲等領(lǐng)域展現(xiàn)出了無限“膜”力。從半導(dǎo)體芯片上的精密涂層到太陽能電池板的高效光吸收層,薄膜的質(zhì)量和性能往往決定了整個系統(tǒng)的功能和效率。而在這其中,膜厚的精確測量是確保薄膜質(zhì)量、優(yōu)化材料性能的關(guān)鍵步驟。近年來,膜厚測量儀的問世,正為這一領(lǐng)域注入了一股新的活力。傳統(tǒng)膜厚測量方法,如機械式測厚儀、光學(xué)干涉儀等,雖然在一定程度上滿足了工業(yè)生產(chǎn)和科研的基本需求,但在面對復(fù)雜多變、尺度微小的薄膜材料時,...
膜厚測量儀這一準(zhǔn)確而高效的測量工具,正以其優(yōu)勢,解鎖了材料厚度測量的新境界,讓我們得以更深入地洞察微觀世界的奧秘。膜厚測量儀是一種用于測量材料表面薄膜厚度的儀器。它利用物理或化學(xué)原理,通過非接觸式或接觸式的方式,對材料表面的薄膜進行精確測量。相較于傳統(tǒng)的測量方法,膜厚儀具有更高的精度、更快的測量速度和更廣的應(yīng)用范圍。無論是金屬、塑料、陶瓷還是半導(dǎo)體材料,膜厚儀都能輕松應(yīng)對,提供準(zhǔn)確的測量結(jié)果。在材料科學(xué)領(lǐng)域,膜厚測量儀的應(yīng)用尤為廣泛。在半導(dǎo)體行業(yè)中,芯片表面的薄膜厚度直接影響...
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